廠商性質(zhì)
其他更新時間
2024-09-23訪問量
715我們相信好的產(chǎn)品是信譽的保證!
致力于成為更好的解決方案供應商!
2016-01-13
+2014-10-31
+2020-07-04
+品牌 | 其他品牌 | 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
---|
COD氨氮總磷總氮測定儀 COD氨氮總磷總氮檢測儀
型號:JJG-408S
1. COD測定使用使用美國EPA認可方法,符合HJ/T399-2007標準,測定準確有效。
2. 氨氮測定使用美國EPA認可方法,符合HJ535-2009標準,測定準確有效。
3. 總磷測定使用美國EPA認可方法,符合HJ670-2013標準,測定準確有效。
4. 總氮測定根據(jù)GB11894-89設計,測定結(jié)果準確有效
5. 采用進口高亮度長壽命冷光源,光學性能佳,光源壽命長達10萬小時。
6. 大屏幕液晶屏幕,全中文顯示,數(shù)據(jù)直讀,操作簡單省時。
7. 消解比色一體,無需換管,測定簡單、快速,無安全隱患。
8. 可保存標準曲線20條及200個測定值(日期、時間、參數(shù)、檢測數(shù)據(jù))。
9. 內(nèi)存標準工作曲線,用戶還可以根據(jù)需要標定曲線。
10. 具有曲線覆蓋干涉功能,防止誤操作覆蓋曲線。
11. 具有數(shù)據(jù)儲存功能和數(shù)據(jù)斷電保護功能,方便查詢歷史測定數(shù)據(jù)、防止數(shù)據(jù)丟失。
12. 消解儀采用智能PID溫度控制技術(shù)及雙重防溫保護系統(tǒng),加熱安全均勻、速度快。通于COD、總磷、總氮等項目的消解。
COD氨氮總磷總氮測定儀 COD氨氮總磷總氮檢測儀檢測原理:
JJG-408S型,COD的測定采用消解管密閉催化消解比色法,氨氮測定采用納氏試劑比色法,總磷采用密閉消解比色法,總氮的測定為堿性過硫酸鹽消解光度法,均為美國EPA認可方法。以進口冷光源、窄帶干涉技術(shù)和微電腦自動處理數(shù)據(jù)后,直接顯示出樣品COD、氨氮及總磷值。儀器廣泛適用于環(huán)境監(jiān)測、污水處理、化工廠、制藥廠、科研單位及大中專院校。
COD氨氮總磷總氮檢測儀
測量參數(shù) | COD(化學需氧量) | 氨氮 | 總磷 | 總氮 |
測量方法 | HJ/T399-2007 《快速消解分光光度法》 | HJ535-2009 《納氏試劑分光光度法》 | HJ671-2013 《鉬酸銨分光光度法》 | 堿性過硫酸鹽 消解光度法 |
測量量程 | 0-10000mg/L(分段測定) | 0-50mg/L(分段測定) | 0-20mg/L(分段測定) | 0-100mg/L(分段測定) |
消解溫度 | 165℃,15min | 不需消解 | 125℃,30min | 125℃,30min |
分辨率 | 0.001mg/L | |||
準確度 | 示值誤差不過5% | |||
重復性 | 相對標準偏差不過5% | |||
光學穩(wěn)定性 | ≤0.001A/20分鐘 | |||
儀器尺寸 | 270mm*220mm*95mm | |||
儀器電源 | AC(220V±10%),50Hz | |||
環(huán)境溫度 | 5~40℃ | |||
環(huán)境濕度 | ≤85%無冷凝 | |||
重量 | 主機<1.4kg,消解器6kg |
![]() | 產(chǎn)品名稱:旋槳式流速儀 產(chǎn)品型號:LS25-1 |
旋槳式流速儀 型號:LS25-1
測速范圍:0.06~5.Om/s
工作水深:﹥0.2m
信 號 數(shù):20轉(zhuǎn)1信號
用 途:測定江河、湖泊、渠道、水庫等過水斷面中預定測點的水流平均速度.
全套儀器:流速儀主機需配CG28型測桿、流速儀和信號線等使用.
氣象組織編號:WMO《HOMS》C79.1.01
Measuring range: 0.06~5.Om/s
Water depth: ﹥0.2m
Application: It is widely used for measurements of the flow velocity in stream、 rivers、canals、lakes and reservoirs .
Notes: The Current meter needs CG28 wading rod、 monitor、 wire for use.
![]() | 產(chǎn)品名稱: 四探針測試儀/ 四探針電阻率檢測儀 產(chǎn)品型號:BT-300H |
四探針測試儀/ 四探針電阻率檢測儀型號:BT-300H
四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。
儀器主要技術(shù)指標:
1. 范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴展至105Ω—cm,
分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /電阻10-6—105Ω
2. 可測半導體尺寸:直徑Φ15—150mm
3. 測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)
4. 數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)
2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
5. 恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給
(2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
(3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)
6.四探針測試探頭 (1)探頭間距:1mm (2)探針機械游率:±0.3%
(3) 探針:Φ0.5mm
鏈條、萬向節(jié)傳動實驗臺 型號:THHK-III
|