描述：食品重金屬檢測儀ZJ05采用電化學方法，使用無汞電，安全環(huán)保。主要針對食品、水質、土壤、水產(chǎn)品等物質中重金屬含量進行檢測，操作簡單，便于在現(xiàn)場快速準確的進行檢測。集重金屬鉛、鎘、六價鉻、汞、砷等多種檢測項目為一體，可以滿足多項重金屬分析的需要

廠商性質
其他
更新時間
2024-09-11
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詳細介紹

品牌	其他品牌	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應用領域	石油

食品重金屬檢測儀ZJ05

說明
重金屬檢測儀采用電化學方法，使用無汞電，安全環(huán)保。主要針對食品、水質、土壤、水產(chǎn)品等物質中重金屬含量進行檢測，操作簡單，便于在現(xiàn)場快速準確的進行檢測。集重金屬鉛、鎘、六價鉻、汞、砷等多種檢測項目為一體，可以滿足多項重金屬分析的需要。此檢測儀器既可用于現(xiàn)場檢測，也可用于實驗室檢測，開機成本低，耗材用量少，操作工作量小，使用方便且成本低。
食品重金屬檢測儀ZJ05
一、儀器特點：
1.基于溶出伏安法，抗干擾能力強，靈敏度高，檢測限低至ppb級（μg/L）；
2.工作電采用長壽命無汞電,安全環(huán)保；
3.樣品前處理安全、簡便，可以一次處理測試鉛、鎘、鉻、汞、砷等多種金屬；
4.快速檢測，檢測時間只需幾十秒，檢測前準備時間只需幾分鐘；
5.高清觸摸屏幕，操作簡便，無需掌握電化學專業(yè)知識；
6.測試過程自動化，支架自動升降，測試管旋轉速度自動調節(jié)；
7.智能化程度高，數(shù)據(jù)可自動處理、顯示、存儲、打??；
8.使用成本低，開機成本低，耗材用量少；
9.使用方便，既可用于現(xiàn)場檢測，也可用于實驗室檢測；
10.可與計算機連接使用，配備軟件控制檢測過程。

二、技術參數(shù):
1.系統(tǒng)分辨精度：電流零點對應的電位對值不大于2mV；
起點電位與初始電位設定值相對偏差的對值應不大于2%；
終點電位與終止電位設定值相對偏差的對值應不大于2%；
2.zui小可測濃度：0.5 ppb (μg/L)；
3.重復性：RSD≤10%；
4.線性：線性相關系數(shù)r≥0.995；
5.外形尺寸：400 mm×270 mm×420 mm；
6.凈重：14.0 ㎏

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀少子壽命測試儀
產(chǎn)品型號： LT-100C

數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀少子壽命測試儀型號： LT-100C
為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。
      該設備是按照標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計制造。高頻光電導衰減法在我國半導體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業(yè)已運用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗，經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量；也可對硅片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。

LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點：
1、可測量太陽能級多晶硅塊、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光，直接對切割面或研磨面進行測量。同時可測量多晶硅檢驗棒及集成電路、整流器、晶體管級硅單晶的少子壽命。
2、  可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命，表面無需拋光、鈍化。
3、配備軟件的數(shù)字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時顯示動態(tài)光電導衰退波形，并可聯(lián)用打印機及計算機。
4、配置兩種波長的紅外光源：
a、紅外光源，光穿透硅晶體深度較深≥500μm，有利于準確測量晶體少數(shù)載流子體壽命。
b、短波長紅外脈沖激光器，光穿透硅晶體深度較淺≈30μm，但光強較強，有利于測量低阻太陽能級硅晶體。
5、測量范圍寬廣
測試儀可直接測量：
a、研磨或切割面：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒、定向結晶多晶硅塊少子體壽命，切割片的少子相對壽命。
b、拋光面：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝范圍內的硅單晶、鍺單晶拋光片。
壽命可測范圍     0.25μS—10ms